系统芯片自动测试系统软件设计与实现

摘要

系统芯片的测试与验证正日益成为制约其应用的核心关键技术和研究热点.本文系统阐述了系统芯片自动测试系统的设计思想与软硬件架构,并重点阐述了其软件的设计与实现.通过引入数据库的通用管理思想,不仅克服了传统测试软件的专用性和局限性,而且使软件标准化、模块化和通用化程度进一步提高.实际测试结果表明,该系统极大地提高了测试程序的开发效率与系统芯片的测试效率.