CMOS与非晶硅探测器成像效果初探

摘要

数字射线检测是当前射线检测的研究热点,其中探测器的发展是数字射线演进的核心.本文介绍了两种目前应用较广的探测器的结构原理、成像过程、成像质量,分析了两种探测器的成像效果和应用领域.结果表明,虽然CMOS探测器的空间分辨率更高,但在实际应用中,由于噪音信号大、相对灵敏度低、受温度影响明显等原因,成像效果较非晶硅探测器差距明显.