微量超微量测量的几个问题

摘要

该文介绍传感器和测试系统的一个重要发展方向——微型(μm级)超微型(nm级)的发展方向。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号