基于图论的系统测点设置方法

摘要

目前在设备故障诊断领域,测量点的选择问题是一个难以解决的问题,在所有可测点上设置测量点,获得的信息量自然最大,但是这样做所花费的代价是最大的,在实际大系统测量中根本无法应用.许多文献中介绍可以从系统信息熵的角度入手,利用信息熵方法确定优化系统测试点.但是利用信息熵的方法存在以下不足:(1)计算量大,计算方法复杂;(2)信息熵的方法必须借助元件故障概率支持,而在某些领域,元件故障概率是很难获得的;(3)信息熵的方法并未考虑测试代价的影响.所以,此方法在工程上也很难获得应用.本文提出利用基于图论的分析方法,通过建立系统的结构模型,然后利用结构模型得到的系统的结构矩阵,通过对结构矩阵分析计算,得到系统的层次模型,进而得到系统的相对优化测试点.为了验证此方法的有效性,本文给出了应用实例.