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高能质子在存储单元灵敏区内沉积能量的模拟计算

摘要

采用Monte Carlo方法模拟高能质子与半导体材料硅的反应.应用TRIM程序计算次级粒子的射程.计算得到了不同能量的高能质子在存储单元灵敏区内沉积的能量.指出高能质子主要通过与硅反应产生的重离子在存储单元灵敏区内沉积能量,导致单粒子效应.

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