新型厚胶特性的研究

摘要

微光机电系统通常采用紫外或X射线光刻技术制作,不同于一般的集成电路加工,其所用光刻胶之厚度达数十微米以上,因此有必要对用于微光机电系统加工的厚胶进行研究.在本文中,我们对一种新型厚胶——AZ PLP 100XT进行了曝光显影特性的实验研究,给出了该胶特性规律,为使用该胶加工微光学和微机械器件提供了依据,为计算模拟分析光刻加工器件的三维图样提供了保证.

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