首页> 中文会议>第17届全国图象图形学学术会议 >基于曲率的离散指数参数化纹理贴图优化算法

基于曲率的离散指数参数化纹理贴图优化算法

摘要

纹理贴图作为一种有效的辅助造型工具在真实感建模、工业设计、娱乐、生物医学等领域应用广泛,一直是当前研究的热点.本文在研究纹理贴图过程中首先分析了基于离散指数参数化纹理贴图(Discrete Exponential Map,DEM)技术;其次针对减少参数化过程中的纹理畸变和扩大参数化应用范围,提出了基于曲率的DEM参数化优化算法;最后实验结果表明,本文算法显著地减少了纹理畸变,提高了参数化鲁棒性,同时能实现柄、孔洞等特征区域的参数化,扩大了纹理参数化应用范围,使得该方法能够被高效地应用于纹理造型系统.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号