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纳米颗粒粒度分析的新进展——CPS高速离心式纳米粒度分析仪

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本文对CPS纳米颗粒粒度分析仪从测量原理、研发历史、标定颗粒及其技术特点几方面作了详细的分析论述.指出CPS纳米粒度分析仪经过30年的发展已经达到高转速、高灵敏度,这样对于微克级的样品进行常规分析也变得可行.

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来源
《第七届全国颗粒制备与处理学术暨应用研讨会》|2004年|140-142|共3页
会议地点杭州
作者
熊向军;
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作者单位

中国颗粒学会颗粒制备与处理专业委员会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 TQ577.77;
关键词
纳米颗粒; 粒度分析仪; CPS系统; 标定颗粒;

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