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CMOS集成电路的闩锁及预防

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本文对CMOS集成电路中寄生可控硅的触发机理、闩锁特性的测量和分析、闩锁效应的预防等方面进行讨论,并以两个具体事例说明CMOS电路闩锁特性的测试分析及闩锁的预防.

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来源
《2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会》|2005年|139-144|共6页
会议地点温州
作者
马璇;
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作者单位

中国电子学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类 BICMOS（双极-MOS混合）集成电路;测试和检验;
关键词
CMOS电路; 闩锁特性; 测试分析;

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