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一种在高速I/O接口嵌入边界扫描电路的方法

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本文阐述了一种具有对原电路影响最小的,将边界扫描单元嵌入到高速I/O电路的方法.对传榆端利用1149.1标准,将边界扫描寄存器插入到低速并行端口,而在接收端利用IEEE1149.6技术将边界扫描寄存器插入到高速串行端口.通过芯片测试举例证实了使用该方法对任务状态的原电路工作影响最小.

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来源
《第十四届全国测试与故障诊断技术研讨会》|2005年|208-212|共5页
会议地点北京
作者
赵志宏; 李小珉; 陈冬;
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作者单位

中国计算机学会;

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会议组织
正文语种
原文格式 PDF
中图分类测试和检验;
关键词
集成电路; 芯片测试; 边界扫描;

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