黄瓜枯萎病和黑星病抗性的遗传与连锁关系

摘要

黄瓜枯萎病和黑星病是危害我国黄瓜生产的两种主要病害.以抗枯萎病和黑星病的黄瓜材料WIS2757和感病材料津研2号为亲本,获得100个F3代株系,分别对亲本,F1及F3代100个株系群体进行苗期抗枯萎病和黑星病接种鉴定.通过F3代群体的抗、感分离情况推测F2代单株基因型,并分别对枯萎病与黑星病的抗性遗传及其这两个抗病基因的连锁关系进行分析.研究结果表明,WIS2757对枯萎病和黑星病的抗性均由单显性基因控制,将抗枯萎病的基因暂定名为Foc-CH,抗黑星病的基因暂定名为Ccu-CH.Foc-CH和Ccu-CH两个抗性基因在遗传上存在连锁关系,其遗传距离为17.5cM.