X-刀小剂量损毁杏仁核及致痫区治疗原发性颞叶癫痫的应用研究

摘要

目的：探讨X-刀治疗顽固性原发性颞叶癫痫(ITLEp)的方法.方法：应用24小时EEG、CT、MRI对原发性颞叶癫痫致痫灶定位,首次应用X-刀小剂量损毁杏仁核及致痫区治疗ITLEp病人20例.杏仁核损毁剂量30GY,准直仪7mm;额颞叶致痫区采用10～15GY剂量,包裹颞叶致痫区.采用X-刀一次治疗.结果：20例ITLEP病人X-刀治疗后2-24个月随访,8例病人癫痫发作完全停止.10例病人癫痫发作减少50％以上;2例病人发作减少30％以上,无并发症发生.结论：应用X-刀以小剂量射线损毁杏仁核及致痫区,可安全有效的治疗ITLEp.