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周涛; 赵墨田; 王军; 逯海;
中国物理学会;
铁同位素; 同位素丰度测量; MC-ICP-MS; 线性校正;
机译:使用配备10〜(10),10〜(12)和10〜(13)欧姆电阻的放大器通过MC-ICP-MS测定钽同位素比和同位素丰度
机译:质谱法测定绝对同位素丰度的新概念,具有改善的测量不确定性:第2部分:开发使用MC-ICP-MS测定硅的摩尔质量的实验程序
机译:MC-ICP-MS测定硒同位素丰度比的研究
机译:MC-ICP-MS用于高精度SI可溯源的稳定同位素丰度比测定硼和铅
机译:校-校伙伴关系中的能力建设:各种利益相关者的观点,经验和方法的探索
机译:血清铁测定中的分析干扰揭示了铁与Ga与基于线性Con的造影剂的金属转移
机译:诸代理校临时 - 一种新的静脉注射铁药物,用于治疗缺铁
机译:稳定Euler方程的缺陷修正与非线性多重网格
机译:用于校平金属带的装置,具有线性驱动,金属带受到线性或拉伸-拉伸-弯曲张力或拉伸辊变形,其中带驱动控制具有两个带张力测量系统
机译:校正与目标有关的线性度和配准误差的方法
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