基于蒙特卡罗模拟的统计过程控制图技术性能比较

摘要

本文运用蒙特卡罗模拟方法,对适用于探查微小范围均值漂移过程的带解释规则的休哈特(ShewhartX)控制图、指数加权移动平均控制图(EWMA)和累积和(CuSum)控制图,进行了比较分析,得出结论,CuSum控制图有最好的表现,接着是EWMA和带解释规则的ShewhartX控制图。