利用改进的微分进化算法进行头部电导率参数的求解

摘要

作为一项功能成像技术，电阻抗成像(EIT)技术通过在目标体外注入一定的安全激励电流，测量目标表面的电位分布，来重构目标内部的阻抗分布信息.EIT是一个非常病态的的非线性逆问题.本文利用利用改进的微分进化算法来重建目标内部的电阻率分布.利用二维真实头模型进行了仿真实验.结果表明，利用改进的微分进化算法可得到了重建精度高的结果.与通常的微分进化算法相比，它具有操作更为简单、人为干预少的优点，且收敛速度大大加快.