首页> 中文会议>中国计量协会冶金分会2007年年会 >荧光光谱分析仪疑难故障排除过程的解析和思考

荧光光谱分析仪疑难故障排除过程的解析和思考

摘要

X荧光光谱分析仪是一种具有高性能光谱系统、数据处理系统、较高灵敏度的X荧光分析仪器,广泛用于质量控制及研究开发的分析任务中。本文列举了理学RLK系列X荧光光谱分析仪的FPC脉冲高度分析不稳、X光管频繁跳电两个典型故障处理的过程及心得体会。针对理学RLX系列扫描型X荧光光谱分析仪的故障原因进行了浅析,对维修过程的思路进行了提炼与总结。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号