首页> 中文会议>第一届中国微电子计量与测试技术研讨会 >基于V93000的高速模数转换芯片静态性能测试与分析

基于V93000的高速模数转换芯片静态性能测试与分析

摘要

本文针对混合信号电路的静态测试问题基于V93000自动测试系统介绍了两种测试方法,分别针对于量产测试和验证性测试。分析并给出了如何利用这两种方法来测试高速模数转换芯片的静态参数。在针对验证性测试中分别利用了三角波信号和正弦波信号作为激励源。rn 采用码密度直方图分析方法快速计算ADC的各静念参数。在V93000上通过以上办法测得芯片的各静态参数并进行对比分析,从而得到了较为精确的芯片的静态性能。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号