X80管线钢钝化膜的半导体性能研究

摘要

利用电容测试法研究了X80管线钢在IMNaHCO3/0.5MNa2CO3缓冲溶液中所形成钝化膜的半导体特性.借助于Mott-Schottky方程分析了测试频率、成膜电位、氯离子浓度和溶液温度对钝化膜半导体性能的影响。结果表明：钝化膜呈n型半导体特性，Mott-Schottky直线部分的斜率随测试频率的变化而变化，表现出膜的深重掺杂性能.随着成膜电位的正移、溶液重氯离子含量的下降和成膜温度的降低，Mott-Schoaky直线部分的斜率增大，成膜电位正移、氯离子含量下降和成膜温度的降低可以使得膜内的施主密度减小.