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马小军; 高党忠; 赵学森; 易泰明; 叶成钢;
中国物理学会;
中国核学会;
相移干涉; 原子力显微镜; 纳米级厚度; 薄膜材料; 反射光相位;
机译:当它们校准并校准时,确保通过Edding相位厚度计测量金属涂层厚度的统一
机译:相位干涉粒子成像可同时测量蒸发的微米级液滴和纳米级尺寸变化
机译:基于相位检测的涡流法金属膜厚度测量系统
机译:金属涂层厚度测量的相位敏感涡流方法 - 涂层厚度仪和金属涂层厚度标准的校准和验证问题
机译:使用具有相位步进和多次反射的循环干涉仪进行纳米级倾斜测量
机译:使用单纤维反射光谱法测量混浊介质的降低的散射系数:纤维直径和相位函数的依赖性
机译:沿Li金属聚合物电池阴极厚度同时监测LiFepo4的结构变化和相位分布
机译:用于测量涂料厚度或任何绝缘材料的厚度 - 其中覆盖非磁性金属
机译:厚度变化测量装置和厚度变化测量方法,能够通过使用双刀来精确地测量厚度变化
机译:厚度变化测量装置,使用相同厚度的系统,使用相同厚度的表面显微镜,使用厚度变化测量的方法以及使用相同厚度的表面图像的获取方法
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