基于扫描电子显微镜的一维纳米材料场发射性能的原位测量

摘要

@@本文工作利用扫描电子显微镜(SEM)中的纳米探针技术实现对CNT和Zn0纳米线进行纳米级的精细操纵，方便地从纳米材料阵列样品中获取单根一维纳米结构，从而精确地控制距离测量场发射特性，另外利用SEM可以原位观察场发射测量中样品形貌的变化。本文实验中以钨针尖为阳极，一维纳米材料为发射阴极，借助KEITHLEY 4200在针尖与样品之间施加电场来引起场发射，测量场发射I-V数据。