cBN电光张量的测量

摘要

用cBN晶体进行电光调制能够实现短波长和高光强调制,所以有必要对cBN晶体的电光张量进行测量。把cBN晶体加工成长方体进行电光张量的测量比较方便而又准确,而cBN晶体的硬度仅次于金刚石,目前人工合成的cBN晶体的尺寸普遍很小,把cBN晶体加工成长方体进行电光张量的测量有相当大的难度,对测量技术进行了概述。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号