光刺激放电电流法研究中光电效应的影响

摘要

光刺激放电电流法是测量电介质中空间电荷陷阱能级非常有效的方法.与热刺激放电电流法相比,光刺激放电电流法是一种对样品微观结构无损并且可认为是测量陷阱能级深度更准确的方法.然而,在测试过程中,光扫描过程可能导致电极-电介质界面的外光电效应,电介质内部的内光电效应,光电效应产生的额外电流可能极大影响光刺激放电电流结果.本文利用光刺激放电电流法主要研究镀有半透明金属电极的聚酰亚胺薄膜(DuPont,Kapton(R)HN200,50μm)在外加电场和无外加电场情况下的放电电流特征,分析了外加电场强度,不同电极结构以及电极厚度等实验参数对实验中的两个特征峰470nm和370nm的影响规律,从而区分了陷阱电荷释放电流和光电效应电流.